ОписаниеZEISS Crossbeam 550- Your FIB-SEM for High Throughput 3D Analysis and Sample Preparation (33411552526).jpg
English: With ZEISS Crossbeam you benefit from a 3D nano-workstation: combine imaging and analytical performance of a field emission scanning electron microscope (FE-SEM) with the processing ability of a focused ion beam (FIB). For milling, imaging or when performing 3D analytics.
हिन्दी: इस फ़ाइल में अतिरिक्त जानकारी शामिल है जैसे कि Exif मेटाडेटा जो डिजिटल कैमरा, स्कैनर, या सॉफ्टवेयर प्रोग्राम द्वारा इसे बनाने या डिजिटाइज़ करने के लिए उपयोग किया गया हो सकता है। यदि फ़ाइल को उसकी मूल स्थिति से संशोधित किया गया है, तो टाइमस्टैम्प जैसे कुछ विवरण पूरी तरह से मूल फ़ाइल को प्रतिबिंबित नहीं कर सकते हैं। टाइमस्टैम्प केवल कैमरे में घड़ी के रूप में सटीक है, और यह पूरी तरह से गलत हो सकता है।
делиться произведением – копировать, распространять и передавать данное произведение
создавать производные – переделывать данное произведение
При соблюдении следующих условий:
атрибуция – Вы должны указать авторство, предоставить ссылку на лицензию и указать, внёс ли автор какие-либо изменения. Это можно сделать любым разумным способом, но не создавая впечатление, что лицензиат поддерживает вас или использование вами данного произведения.
https://creativecommons.org/licenses/by/2.0CC BY 2.0 Creative Commons Attribution 2.0 truetrue
Это изображение изначально опубликовано на Flickr участником проекта ZEISS Microscopy по ссылке https://flickr.com/photos/75834543@N06/33411552526. Оно было досмотрено 15 апреля 2017 роботом FlickreviewR, который подтвердил, что изображение лицензировано в соответствии с условиями cc-by-2.0.
15 апреля 2017
Краткие подписи
Добавьте однострочное описание того, что собой представляет этот файл
Файл содержит дополнительные данные, обычно добавляемые цифровыми камерами или сканерами. Если файл после создания редактировался, то некоторые параметры могут не соответствовать текущему изображению.