Płytki interferencyjne

Płytki interferencyjne wykorzystują zjawisko interferencji do sprawdzania płaskości i równoległości powierzchni pomiarowych przyrządów pomiarowych[1].

Możemy wyszczególnić dwa rodzaje płytek interferencyjnych:[2]

  • płaskie płytki interferencyjne
  • płaskorównoległe płytki interferencyjne

Płaskie płytki interferencyjne[edytuj | edytuj kod]

Wykonywane w postaci szklanych krążków o średnicach 45, 60, 80 lub 100 mm w dwóch klasach dokładności I i II (według normy PN-74/M-54602)[2].

W zależności od kształtu powierzchni pomiarowej można rozróżnić płytki o symbolu "A" - jednostronne i dwustronne, oraz płytki o symbolu "B" - ze skosem.[2]

Zastosowanie[edytuj | edytuj kod]

Płaskich płytek interferencyjnych używa się do:

  • wyznaczania odchyłki płaskości powierzchni (o odchyłce płaskości nie przekraczającej 3 μm, powierzchnie muszą być odbijające, by było możliwe obserwowanie prążków interferencyjnych[3]) np. wyznaczanie płaskości kowadełka i wrzeciona w mikrometrze, wyznaczanie odchyłki płaskości powierzchni pomiarowych płytki wzorcowej[4], wyznaczanie odchyłki płaskości stopy głębokościomierza mikrometrycznego[5].
  • wyznaczania odchyłki płaskości powierzchni za pomocą liniału krawędziowego lub prostoliniowości krawędzi pomiarowych za pomocą płytki wzorcowej lub wkładki płaskowalcowej, gdzie do płaskiej płytki interferencyjnej przywierane są płytki wzorcowe mikronowe, w celu utworzenia szczeliny wzorcowej[3]. Np. wyznaczanie płaskości powierzchni i prostoliniowości krawędzi pomiarowych w suwmiarce[6], wyznaczanie odchyłki płaskości stopy w głębokościomierzu suwmiarkowym lub odchyłki płaskości podstawy w wysokościomierzu suwmiarkowym[7].
  • wyznaczania odchyłki płaskości powierzchni pomiarowych płaskich lub płaskorównoległych płytek wzorcowych[8].
  • wyznaczania przywieralności powierzchni pomiarowych płytki wzorcowej[4][9]

Wzorcowanie płaskich płytek interferencyjnych[edytuj | edytuj kod]

W trakcie wzorcowania płaskich płytek interferencyjnych jedynym wyznaczanym parametrem jest odchyłka płaskości powierzchni pomiarowych[10].

Odchyłkę płaskości wyznacza się metodą wzajemnego sprawdzania trzech płytek interferencyjnych.

Płaskorównoległe płytki interferencyjne[edytuj | edytuj kod]

Wykonywane w postaci szklanych krążków, zazwyczaj w kompletach po 4 sztuki różniące się między sobą wysokością (o 0,12 lub 0,13 mm dla gwintu śruby mikrometrycznej o skoku 0,5 mm[11]).

Zastosowanie[edytuj | edytuj kod]

Płaskorównoległych płytek interferencyjnych używa się do:

  • wyznaczania odchyłki równoległości powierzchni pomiarowych[2] np. w mikrometrach zewnętrznych[12] lub grubościomierzach czujnikowych[13] (z lustrzanymi powierzchniami pomiarowymi). Różnice wysokości płytek (co 0,12 lub 0,13 mm) odpowiadają około 1/4 skoku śruby mikrometrycznej, co pozwala na sprawdzenie odchyłki równoległości kowadełka i wrzeciona w czterech położeniach kątowych co ok. 90 stopni.

Wzorcowanie płaskorównoległych płytek interferencyjnych[edytuj | edytuj kod]

W trakcie wzorcowania płaskorównoległych płytek interferencyjnych wyznaczane są następujące parametry[14]:

  • odchyłka płaskości powierzchni pomiarowych płaskorównoległych płytek interferencyjnych (za pomocą płaskich płytek interferencyjnych)
  • odchyłka równoległości powierzchni pomiarowych płaskorównoległych płytek interferencyjnych
  • odchyłka długości płaskorównoległych płytek interferencyjnych

Przypisy[edytuj | edytuj kod]

  1. ↑ Janusz Rakowiecki, Podstawy metrologii, „Wydawnictwa Szkolne i Pedagogiczne”, 1974, s. 196.
  2. ↑ a b c d Władysław Jakubiec, Jan Malinowski, Metrologia wielkości geometrycznych, „Wydawnictwa Naukowo-Techniczne”, 1999, s. 330, ISBN 83-204-2380-5.
  3. ↑ a b Jerzy Gliwiński (red.), Metody sprawdzania narzędzi do pomiarów długości i kąta, „Wydawnictwa Normalizacyjne”, 1979, s. 61.
  4. ↑ a b Wzorcowanie płytek wzorcowych długości (akredytacja PCA) - KUM ŁÓDŹ [online], www.kumlab.eu [dostęp 2016-07-14].
  5. ↑ Wzorcowanie głowic i głębokościomierzy mikrometrycznych - KUM ŁÓDŹ [online], www.kumlab.eu [dostęp 2016-07-14].
  6. ↑ Wzorcowanie suwmiarek (akredytacja PCA) - KUM ŁÓDŹ [online], www.kumlab.eu [dostęp 2016-07-14].
  7. ↑ Wzorcowanie głębokościomierzy i wysokościomierzy suwmiarkowych (akredytacja PCA) - KUM ŁÓDŹ [online], www.kumlab.eu [dostęp 2016-07-14].
  8. ↑ Jerzy Gliwiński (red.), Metody sprawdzania narzędzi do pomiarów długości i kąta, „Wydawnictwa Normalizacyjne”, 1979, s. 70.
  9. ↑ Jerzy Gliwiński (red.), Metody sprawdzania narzędzi do pomiarów długości i kąta, „Wydawnictwa Normalizacyjne”, 1979, s. 64.
  10. ↑ Wzorcowanie płaskich płytek szkieł interferencyjnych (akredytacja PCA) - KUM ŁÓDŹ [online], www.kumlab.eu [dostęp 2016-07-14].
  11. ↑ Ryszard Wit, Pracownia metrologiczna, „Wydawnictwa Szkolne i Pedagogiczne”, s. 325.
  12. ↑ Wzorcowanie mikrometrów zewnętrznych i wewnętrznych (Akredytacja PCA) - KUM ŁÓDŹ [online], www.kumlab.eu [dostęp 2016-07-14].
  13. ↑ Wzorcowanie grubościomierzy i głębokościomierzy czujnikowych - KUM ŁÓDŹ [online], www.kumlab.eu [dostęp 2016-07-14].
  14. ↑ Wzorcowanie płaskorównoległych płytek szkieł interferencyjnych (akredytacja PCA) - KUM ŁÓDŹ [online], www.kumlab.eu [dostęp 2016-07-14].
Źródło: „https://pl.wikipedia.org/w/index.php?title=Płytki_interferencyjne&oldid=68644796”