비아 (일렉트로닉스)

(1) 스루홀.
(2) 블라인드 비아.
(3) 부리드 비아.
회색 및 녹색 층은 비전도성이고, 얇은 주황색 층과 빨간색 비아는 전도성이다.
비아(Via, 라틴어로 '경로' 또는 '길')는 인쇄 회로 기판 (PCB) 또는 집적 회로의 두 개 이상의 금속층 사이의 전기 연결이다. 본질적으로 비아는 두 개 이상의 인접 층을 관통하는 작은 드릴 구멍이다. 이 구멍에는 절연층을 통해 전기 연결을 형성하는 금속(주로 구리)이 도금되어 있다.
비아는 PCB 제조에서 중요한 고려 사항이다.[1] 여러 층을 가로지르는 수직 구조로서, 설계의 대부분과 다르게 지정되어 오류 발생 가능성이 높아진다. 비아는 등록(다른 층들이 얼마나 밀접하게 정렬되어 있는지)에 가장 엄격한 요구 사항을 적용한다. 다른 특징들과 다른 도구로 제조되며, 이 도구는 일반적으로 더 느슨한 공차를 가지고 있다. 구멍이나 층 중 어느 하나가 약간 잘못 배치되면 잘못된 전기 연결이 발생할 수 있으며, 이는 표면에서 보이지 않을 수 있다. 구멍이 드릴된 후에는 전도성 재료를 도금해야 하며, 구리 층에 단순히 전도성 재료를 제자리에 두는 것과는 다르다. 처음에는 양호했던 보드도 비아가 주변 기판과 열에 다르게 반응하기 때문에 나중에 문제가 발생할 수 있다. 비아는 또한 전기 임피던스의 불연속성을 나타내며, 이는 신호 무결성에 문제를 일으킬 수 있다.
인쇄 회로 기판
[편집]
인쇄 회로 기판 (PCB) 설계에서 비아는 보드의 다른 구리 층에 해당하는 위치에 있는 두 개의 패드로 구성되며, 보드를 관통하는 구멍으로 전기적으로 연결된다. 구멍은 전기도금으로 전도성을 갖게 하거나, 튜브나 리벳으로 라이닝된다. 고밀도 다층 PCB는 마이크로비아를 가질 수 있다. 블라인드 비아는 보드의 한쪽에만 노출되는 반면, 부리드 비아는 표면에 노출되지 않고 내부 층을 연결한다. 서멀 비아는 전원 장치에서 열을 방출하며 일반적으로 약 12개의 어레이로 사용된다.[2][3]
비아는 다음으로 구성된다.
- 배럴 - 드릴 구멍을 채우는 전도성 튜브
- 패드 - 배럴의 각 끝을 부품, 평면 또는 트레이스에 연결
- 안티패드 - 배럴과 연결되지 않은 금속층 사이의 클리어런스 홀

비아는 때때로 PTV 또는 도금된 스루홀 비아라고 불리며, 도금된 스루홀(PTH)과 혼동해서는 안 된다. 비아는 PCB의 구리층 간의 상호 연결로 사용되는 반면, PTH는 일반적으로 비아보다 크게 만들어지며 비-SMT 저항, 커패시터 및 DIP 패키지 IC와 같은 부품 리드를 수용하기 위한 도금된 구멍으로 사용된다. PTH는 기계적 연결을 위한 구멍으로도 사용될 수 있지만, 비아는 그렇지 않을 수 있다. PTH의 다른 사용법은 캐스텔레이트 홀이라고 하며, PTH가 보드 가장자리에 정렬되어 보드가 패널에서 밀링될 때 절반으로 절단된다. 주요 사용법은 스택에서 다른 PCB에 하나의 PCB를 납땜할 수 있게 하여 고정 장치와 커넥터 역할을 모두 수행하는 것이다.[4]
오른쪽 그림에는 세 가지 주요 종류의 비아가 나와 있다. PCB 제작의 기본 단계는 기판 재료를 만들고 층을 쌓는 것, 비아를 도금하는 스루-드릴링, 그리고 사진 석판술 및 에칭을 사용하여 구리 트레이스 패턴을 만드는 것이다. 이 표준 절차로는 가능한 비아 구성이 스루홀로 제한된다.[a] 레이저 사용과 같은 깊이 제어 드릴링 기술은 더 다양한 비아 유형을 허용할 수 있다. 레이저 드릴은 기계 드릴이 생성하는 것보다 작고 더 정확하게 배치된 구멍에도 사용될 수 있다. PCB 제조는 일반적으로 소위 코어, 즉 기본 양면 PCB로 시작된다. 처음 두 층 외의 층은 이 기본 구성 블록에서 쌓인다. 코어 하단에서 연속적으로 두 개의 층을 더 쌓으면 1-2 비아, 1-3 비아 및 스루홀을 가질 수 있다. 각 유형의 비아는 각 스태킹 단계에서 드릴링하여 만들어진다. 한 층이 코어 위에 쌓이고 다른 층이 하단에서 쌓이면 가능한 비아 구성은 1-3, 2-3 및 스루홀이다. 사용자는 PCB 제조업체가 허용하는 스태킹 방법 및 가능한 비아에 대한 정보를 수집해야 한다. 저렴한 보드의 경우 스루홀만 만들어지며 비아와 접촉해서는 안 되는 층에는 안티패드(또는 클리어런스)가 배치된다.
IPC 4761
[편집]IPC 4761은 다음과 같은 비아 유형을 정의한다.
- 유형 I: 텐트 비아
- 유형 II: 텐트 및 덮개 비아
- 유형 III-a: 비전도성 재료로 한쪽만 밀봉된 플러그 비아
- 유형 III-b: 비전도성 재료로 양쪽이 밀봉된 플러그 비아
- 유형 IV-a: 비전도성 재료로 밀봉되고 한쪽에 습식 솔더 마스크로 덮인 플러그 및 덮개 비아
- 유형 IV-b: 비전도성 재료로 밀봉되고 양쪽에 습식 솔더 마스크로 덮인 플러그 및 덮개 비아
- 유형 V: 비전도성 페이스트로 채워진 채워진 비아
- 유형 VI-a: 한쪽에 건식 필름 또는 습식 솔더 마스크로 덮인 채워지고 덮인 비아
- 유형 VI-b: 양쪽에 건식 필름 또는 습식 솔더 마스크로 덮인 채워지고 덮인 비아
- 유형 VII: 비전도성 페이스트로 채워지고 양쪽에 오버도금된 채워지고 캡핑된 비아
고장 거동
[편집]잘 만들어진 PCB 비아는 주로 구리 도금과 PCB 간의 면외 방향(Z)에서의 차동 팽창 및 수축으로 인해 고장날 것이다. 이 차동 팽창 및 수축은 구리 도금에 주기적인 피로를 유발하여 결국 균열 전파 및 전기적 개방 회로를 초래한다. 다양한 설계, 재료 및 환경 매개변수가 이러한 열화 속도에 영향을 미칠 것이다.[5][6] 비아의 견고성을 보장하기 위해 IPC는 고장 시간 계산기를 개발한 라운드 로빈 연습을 후원했다.[7]
집적 회로의 비아
[편집]집적 회로 (IC) 설계에서 비아는 서로 다른 층 간의 전도성 연결을 허용하는 절연 산화물 층의 작은 개구부이다. 실리콘 웨이퍼 또는 다이를 완전히 통과하는 집적 회로의 비아는 칩 관통 비아 또는 실리콘 관통 비아(TSV)라고 한다. 코닝은 실리콘 패키징에 비해 유리의 전기적 손실이 감소하기 때문에 유리 관통 비아(TGV)를 반도체 패키징용으로 연구해왔다.[8] 가장 낮은 금속층을 확산층 또는 폴리층에 연결하는 비아는 일반적으로 "컨택"이라고 불린다.
갤러리
[편집]- 다층 기판의 도금된 스루홀 (확대)
- 도금된 스루홀의 도금:
위 – 상단 층
아래 – 하단 층
같이 보기
[편집]참고
[편집]- ↑ 코어당 스루홀. 추가 코어 및 라미네이션 단계를 사용하여 블라인드 또는 부리드 비아를 만드는 것이 더 비싸지만 가능하다. 백드릴을 사용하여 원하는 층까지 한쪽에서 도금을 제거할 수도 있다. 이는 물리적 구멍을 스루홀로 남기지만 전기적으로 블라인드 비아와 동일한 것을 생성한다. PCB에 블라인드 및 부리드 비아를 정당화할 만큼 충분한 층이 필요한 경우, (레이저 드릴링된) 마이크로비아를 필요로 할 만큼 충분히 작고 빽빽하게 포장된 트레이스를 사용하고 있을 것이다.
각주
[편집]- ↑ “PCB Vias: An In-Depth Guide”. 《ePiccolo Engineering》.
- ↑ “PCB design: A close look at facts and myths about thermal vias”.
- ↑ Gautam, Deepak; Wager, Dave; Musavi, Fariborz; Edington, Murray; Eberle, Wilson; Dunford, Willa G. (2013년 3월 17일). 《A review of thermal management in power converters with thermal vias》. 2013 Twenty-Eighth Annual IEEE Applied Power Electronics Conference and Exposition (APEC). Long Beach, California, U.S.A: IEEE. doi:10.1109/APEC.2013.6520276.
- ↑ “Castellated Holes / Edge Plating PCB / Castellations”. Hi-Tech Corp. 2011. 2016년 5월 26일에 원본 문서에서 보존된 문서. 2013년 1월 2일에 확인함.
- ↑ C. Hillman, Understanding plated through via failures, Global SMT & Packaging – November 2013, pp 26-28, https://www.dfrsolutions.com/hubfs/Resources/services/Understanding_Plated_Through_Via_Failures.pdf?t=1514473946162
- ↑ C. Hillman, Reliable Plated Through Via Design and Fabrication, http://resources.dfrsolutions.com/White-Papers/Reliability/Reliable-Plated-Through-Via-Design-and-Fabrication1.pdf
- ↑ “Plated Through Hole (PTH) Fatigue calculator”. DfR Solutions. 2017년 12월 17일에 확인함.
- ↑ “Progress and Application of Through Glass Via (TGV) Technology” (PDF). 《corning.com》. 2019년 8월 8일에 확인함.
추가 자료
[편집]- “Tips for PCB Vias Design” (PDF) (Technical note). Quick-teck. 2014. EN-00417. 2017년 12월 18일에 확인함.
- “Via Tenting - Overview of the variations”. 《WE Online》. Würth Elektronik GmbH & Co. KG. 2014. Printed Circuit Boards > Layout > Design Tip > Tenting. 2017년 12월 18일에 원본 문서에서 보존된 문서. 2017년 12월 18일에 확인함.
- “Via Plugging - Overview of the variations”. 《WE Online》. Würth Elektronik GmbH & Co. KG. 2014. Printed Circuit Boards > Layout > Design Tip > Plugging. 2017년 12월 18일에 원본 문서에서 보존된 문서. 2017년 12월 18일에 확인함.
- “Via Filling - Overview of the variations”. 《WE Online》. Würth Elektronik GmbH & Co. Co. KG. 2013. Printed Circuit Boards > Layout > Design Tip > Filling. 2017년 12월 18일에 원본 문서에서 보존된 문서. 2017년 12월 18일에 확인함.
- “Microvia Filling”. 《WE Online》. Würth Elektronik GmbH & Co. Co. KG. 2015. Printed Circuit Boards > Layout > Design Tip > Microvia Filling. 2017년 12월 18일에 원본 문서에서 보존된 문서. 2017년 12월 18일에 확인함.
- Dingler, Klaus; Musewski, Markus (2009년 3월 18일). “Pluggen / Plugging”. 《FED-Wiki》 (독일어). Berlin, Germany: Fachverband Elektronik-Design e.V. (FED). 2017년 12월 18일에 원본 문서에서 보존된 문서. 2017년 12월 18일에 확인함.
- “Via Optimization Techniques for High-Speed Channel Designs” (PDF) (Application note). 1.0. Altera Corporation. May 2008. AN-529-1.0. 2017년 12월 18일에 원본 문서 (PDF)에서 보존된 문서. 2017년 12월 18일에 확인함.
- Chu, Jun (2017년 4월 11일). “Controlled Depth Drilling, or Back Drilling”. 《Online Documentation for Altium Products》. Altium. 2017년 12월 18일에 원본 문서에서 보존된 문서. 2017년 12월 18일에 확인함.
- Loughhead, Phil (2017년 5월 30일). “Removing Unused Pads and Adding Teardrops”. 《Online Documentation for Altium Products》. Altium. 2017년 12월 18일에 원본 문서에서 보존된 문서. 2017년 12월 18일에 확인함.
- Brooks, Douglas G.; Adam, Johannes (2017년 2월 9일). 《PCB Trace and Via Temperatures: The Complete Analysis》 2판. CreateSpace Independent Publishing Platform. ISBN 978-1541213524.
외부 링크
[편집]- 온라인 비아 계산기 (암페어 용량, 커패시턴스, 임피던스, 전력 손실 계산).