پرونده:Fib tem sample.jpg
پروندهٔ اصلی (۱٬۰۲۴ × ۸۰۰ پیکسل، اندازهٔ پرونده: ۲۰۵ کیلوبایت، نوع MIME پرونده: image/jpeg)
تاریخچهٔ پرونده
روی تاریخ/زمانها کلیک کنید تا نسخهٔ مربوط به آن هنگام را ببینید.
تاریخ/زمان | بندانگشتی | ابعاد | کاربر | توضیح | |
---|---|---|---|---|---|
کنونی | ۳ فوریهٔ ۲۰۰۷، ساعت ۱۴:۳۶ | ۱٬۰۲۴ در ۸۰۰ (۲۰۵ کیلوبایت) | EdC | {{Information |Description=SEM micrograph of a wide-bandgap semiconductor prepared for TEM by focused-ion-beam milling. |Source=English wikipedia |Date=9 March 2006 |Author=english User:Cm the p |Permission= |other_versions= }} [[category:Focused Ion Bea |
کاربرد پرونده
صفحهٔ زیر از این تصویر استفاده میکند:
کاربرد سراسری پرونده
ویکیهای دیگر زیر از این پرونده استفاده میکنند:
- کاربرد در en.wikipedia.org
- کاربرد در fr.wikipedia.org
- کاربرد در gl.wikipedia.org
- کاربرد در it.wikipedia.org
- کاربرد در kn.wikipedia.org
- کاربرد در pl.wikipedia.org
- کاربرد در pt.wikipedia.org
- کاربرد در ru.wikipedia.org